通過(guò)近一年的努力，中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所第八研究室研制的風(fēng)云二號(hào)（03）批五個(gè)通道窄帶濾光片歸一化光譜達(dá)到了數(shù)值量化使用要求，通過(guò)了整機(jī)項(xiàng)目組審查，進(jìn)入了鑒定星器件封裝程序。

根據(jù)氣象局衛(wèi)星總體不斷推進(jìn)技術(shù)進(jìn)步的指示，風(fēng)云二號(hào)（03）批掃描輻射計(jì)研制重點(diǎn)為提高定量化應(yīng)用水平，提高產(chǎn)品的可靠性，對(duì)掃描輻射計(jì)提出了更高的要求。定量化應(yīng)用關(guān)鍵點(diǎn)是掃描輻射計(jì)系統(tǒng)各通道光譜響應(yīng)滿(mǎn)足定量化要求。因此，掃描輻射計(jì)中五通道帶通濾光片光譜數(shù)值量化的重要性就愈加顯現(xiàn)。相比風(fēng)云二號(hào)（02）批帶通濾光片光譜圖形要求，風(fēng)云二號(hào)（03）批新提出了有效帶通比要求、標(biāo)稱(chēng)波段內(nèi)透射能量、外部光譜限制，內(nèi)部光譜限制等技術(shù)指標(biāo)。此外，總體項(xiàng)目組希望帶通濾光片的波形要貼外框，在有限的區(qū)域獲取最大的透射能量，這一要求使濾光片的中心誤差和帶寬誤差趨于零，濾光片研制難度成倍增加。

項(xiàng)目組同志發(fā)揚(yáng)團(tuán)隊(duì)協(xié)作精神，通過(guò)理論計(jì)算和優(yōu)化，改進(jìn)濾光片的膜系與光譜設(shè)計(jì)，研制優(yōu)質(zhì)材料, 并利用現(xiàn)有設(shè)備，不斷摸索鍍制工藝，攻克了一個(gè)又一個(gè)難題。例如: 為了達(dá)到帶通濾光片光譜量化要求，設(shè)計(jì)膜系的諧振腔數(shù)目從三個(gè)增加到四個(gè)，半波層的級(jí)次提高一倍，引起膜層厚度增加，控制允差減小，鍍制困難。特別是長(zhǎng)波Ⅰ、Ⅱ通道長(zhǎng)波紅外低溫分裂窗濾光片，由于中心波長(zhǎng)較長(zhǎng)，膜層厚，材料選擇少、吸收大及折射率不穩(wěn)定性等因素，研制尤其困難。經(jīng)過(guò)多輪的研制，逐漸掌握了長(zhǎng)波帶通光譜數(shù)值量化濾光片的研制工藝，濾光片性能不斷提高到預(yù)期的目標(biāo)。　 

目前，風(fēng)云二號(hào)（03）批的五通道帶通濾光片光譜達(dá)到了數(shù)值量化使用的階段要求，隨著技術(shù)條件的改進(jìn), 濾光片的性能將更加完善。為此，項(xiàng)目組正抓緊時(shí)間，全力以赴，爭(zhēng)取早日研制出性能優(yōu)良的上星產(chǎn)品，為提升風(fēng)云二號(hào)（03）批掃描輻射計(jì)光譜定量化應(yīng)用水平作貢獻(xiàn)。